晶体测试仪

二、主要技术指标：

   频率测量范围： 0.1Hz — 100MHz

频率测量灵敏度：30mv

   PPm测量：3KHz — 100MHz

   PPm测量精度：≤1 PPm （1×10^-6）

（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）

   中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定

误差设置范围设定：± 1 — ± 999 PPm任意设定。

   闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s三档固定，

1档闸门1ms — 10s可设，

每1mS为一阶梯任意设定。

周期测量范围：100 ms — 10 s

晶振稳定性：5 ×10^-7 / 日

（可选 1 ×10^-7/ 日，1 ×10^-8 / 日）

   时基频率：OCXO--10MC

三、特点：

    微机控制，可编程器件开发， 模块化设计

100MHz同步等精度测量方式

SMT贴装生产、工艺，全新小型化结构设计

9位LED显示

PPm提示功能

四、可选配：

    晶体测量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,

 40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

注：仪器配置

   JT-100A晶体测试仪/PPm                     1台

     连接电缆                                      2 根

     电源线                                        1根

     匹配器32.768KHz ～ 20MHz                      1个

     保险丝                                        2个

     说明书                                        1份